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韓国・Sairon Technology, Inc. 光屈折率・光伝搬損失・膜厚 測定装置 プリズムカプラ「SPA-4000」 |
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用途 |
SiO2、ポリマー、透明樹脂等の光屈折率・光伝搬損失・膜厚測定 |
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適用分野 |
光導波路、ディスプレイ、光/磁気記録媒体、光学素子、IC製造工程等 |
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特徴 |
光伝搬損失 （マッチングオイル法） |
0.01dB/cmまでの微細な損失を検出 註：試料品質に依存します。 |
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光屈折率 |
<GGGプリズム使用時> 1.0 -1.8±(0.001)
at 405–1550nm <Rutile プリズム使用時> 1.8 –2.45±(0.001)
at 532–1550nm |
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光屈折率温度依存測定 |
室温〜150℃ |
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膜厚 |
0.4um-150um±(0.5%) |
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詳細 |
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メーカーH.P |
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お問合せ先 （代理店） |
情報機器第一部 第一課 樋口 朝暁 TEL：(03)5472-1722 FAX：(03)5472-1720 E-mail：問い合わせ |
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光屈折率・光伝搬損失・膜厚測定装置
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