Sairon Technology, Inc.
 
光複屈折率・光伝搬損失・膜厚測定装置
プリズムカプラ:SPA-4000
±0.01dB/cmでロス、0.05度刻みで回転しながら光複屈折率測定

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特徴

400nmから1550nmの範囲で、任意のレーザーを最大4種搭載可能
マッチングオイル法により、光伝搬損失を±0.01dB/cmの再現精度で測定可能
回転テーブルで、試料を分解能0.05度で正確に回転させながら複屈折率を測定
・室温から150℃まで試料を加熱し、温度と光屈折率の相関を解析
液体の光屈折率を測定可能
合計7モード以上検出できた場合、上下層それぞれの光屈折率・膜厚を一切の仮定値なく測定可能
・下層の光屈折率、膜厚が分かっている場合、合計1モード検出のみで上層の光屈折率・膜厚を測定可能
・2層測定の場合、微小な上下層の光屈折率差でも個別測定可能
必要最小デルタ 633nm 0.01%以上
  830nm 0.2%以上
  1310nm 0.3% 以上
  1550nm 0.3% 以上


仕様

基板上の薄膜 
-.単層並びに2層の測定可能
-.光屈折率+膜厚同時測定

搭載可能レーザー種 【註1】
400-1600nm

光屈折率測定可能範囲

1.0〜2.45

再現精度

±0.001

膜厚測定可能範囲 【註2】

0.4um-30um

膜厚精度

±0.5%

膜厚表示分解能

±0.01um

バルクフィルム 及び 液体 
-.光屈折率のみ測定可能

光屈折率測定可能範囲

1.0〜2.45

再現精度

±0.0005

オプション

温度依存性 ユニット

温度可変範囲

室温〜150℃

光伝搬損失 ユニット

再現精度(SiO2の場合)

±0.01dB/cm

3DR回転テーブル ユニット

複屈折率の高精度測定

回転分解能:0.05°

厚膜測定 ユニット 膜厚測定可能範囲
2um-150um
TMフィルター ユニット TM波での光屈折率測定
1.0〜2.45

註1:最大4種類のレーザーを搭載可能です。詳細は、以下基本仕様書をご参照ください。
註2:30um以上の試料は、光屈折率のみの測定となります。

客先でご準備いただくもの 【当方でもオプションとして手配可能】
●ベビーエアコンプレッサー
-.必要圧力: 0.5Mps〜0.8Mps
-.エアチューブ直径: 標準4mm 
(6mm, 8mmもアダプターがありますので装置へ接続可能です。)
●PC
-.ペンティアム3以上
-. 本体とのコミュニケーションインターフェース: RS232 (シリアルポート)

application

光導波路、ディスプレイ、光/磁気記録媒体、光学素子、IC製造工程等

資料とリンク

一般資料 基本仕様書 取扱い説明書 プリズムカプラとは? マッチングオイル法とは? 

温度依存性測定 光損失測定 液体測定 他社製品比較 日本語一般 

参考 弊社指定内示書 試料作成ガイド  新商品一覧 

●開けないファイルは保護をかけております。パスワードは以下へお問合せください。

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御注文方法

御見積:
以下へご連絡ください。貴社仕様に合わせて御見積致します。その際に、御支払い方法、設置場所等をご相談させて頂きます。

デモ測定:
試料を頂戴しましたら、当方で測定し、データをつけて返送致します。通常サンプルをお借りして2週間以内に御戻しできます。試料の作成方法は、試料作成ガイドをご参考ください。
立会いを希望される場合には、搭載オプションにより日本にない場合が御座いますので、事前にその旨お申し付けください。

納期について:
納期は、搭載するオプションにもよりますが、通常御注文請け後90日程度頂いております。

据付設置について:
当方で、貴社指定場所まで搬入し、設置致します。
通常2時間程度で完了致します。

トレーニングについて:
測定方法についてのトレーニングは、据付完了後、行います。通常4時間程度で完了致します。

お問合せ

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情報機器部 第一課
担当:樋口、関
電話番号:03-5472-1722 FAX:03-5472-1720
E-mail: こちらをクリック
住所:〒105-0001 東京都港区虎ノ門3-8-21 虎ノ門33森ビル4F

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